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| 序号 |
仪器名称 |
规格型号 |
测量范围 |
扩展不确定度
最大允差
准确度等级 |
制造厂 |
| 1 |
x-射线荧光光谱仪 |
X-Ray |
X×10-6-X×10-2μg/g |
|
美国 |
| 2 |
X-荧光光谱仪 |
XRF-8680 |
|
RD<2% |
美国ARL公司 |
| 3 |
X-射线衍射仪 |
D/MAX-ⅢA |
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稳定度≤0.01 |
日本理学株式会社 |
| 4 |
全谱直读光谱仪 |
IRIS |
波长范围165-1050nm |
0.01nm |
美国富兰克林 |
| 5 |
等离子光量计 |
JY-70P |
200-500nm |
0.4nm |
法国科梅夫 |
| 6 |
探针-扫描电子显微镜 |
JXA-733 |
Be-U |
7nm |
日本电子公司 |
| 7 |
傅里叶变换红外光谱仪 |
IRTrestigr-21 |
|
|
日本岛津公司 |
| |
差热分析仪 |
D/MAX-ⅢA |
0-1400C |
±2C |
日本理学 |
| 8 |
原子吸收分光光度计 |
AA-6300 |
192-852nm |
1nm |
日本岛津公司 |
| 9 |
原子吸收分光光度计 |
AAnalyst600 |
193.7-852.1nm |
cu RSD%=0.9% |
美国PE公司 |
| 10 |
原子吸收分光光度计 |
AA-680 |
192-852nm |
1nm |
日本岛津公司 |
| 11 |
原子吸收分光光度计 |
Z-7000 |
193-852nm |
≤±0.4nm |
日本日立 |
| 12 |
紫外可见分光光度计 |
UV-250 |
190-700nm |
0.1nm |
日本岛津 |
| 13 |
紫外可见分光光度计 |
UV-250 |
190-700nm |
精度±2nm |
日本岛津公司 |
| 14 |
紫外可见分光光度计 |
150-20 |
190-700nm |
精度±2nm |
日本日立 |
| 15 |
气相色谱仪 |
HP6890 |
线性>107 |
检出限>10-11g/s |
美国惠普公司 |
| 16 |
离子色谱仪 |
2020I |
0.1-10κμs |
|
美阿莱德公司 |
| 17 |
双道原子荧光光度计 |
AFS-2201 |
|
RSD≤2% |
北京海光仪器厂 |
| 18 |
双道原子荧光光度计 |
AFS-2202a |
|
RSD:优于2% |
北京万拓仪器公司 |
| 19 |
双道原子荧光光度计 |
AFS_230E |
|
RSD≯1.5% |
北京海光仪器厂 |
| 20 |
数字离子计 |
901 |
0.1-999.9mv |
0.1mv |
美国奥林 |
| 21 |
实体显微镜 |
OPTONIVB |
10-80X |
|
西德奥普通 |
| 22 |
显微光度仪 |
MPV-compact |
220/400-800nm |
0.0005mm |
西德莱兹 |
| 23 |
热导仪 |
DSⅡ-861 |
≥0.01ct |
0.01ct |
日本 |
| 24 |
光栅光谱仪 |
PGS-2 |
200-800nm |
<0.37nm |
东德蔡司 |
| 25 |
光栅光谱仪 |
PGS-2 |
200-800nm |
<0.37nm |
东德蔡司 |
| 26 |
偏光显微镜 |
BHSM-753P |
偏(反)光40X-1000X/50X-800X |
|
日本欧林巴斯 |
| 27 |
偏反光显微镜 |
BK |
偏(反)光125X-10X/100X-4X |
|
西德莱兹 |
| 28 |
偏光显微镜 |
NikoN |
偏(反)光125X-10X/100X-10X |
|
日本尼康 |
| 29 |
实体显微镜 |
SZ-TR |
8X-40X |
|
日本欧林巴斯 |
| 30 |
立体显微镜 |
DRC |
10X-80X |
|
西德欧波同 |
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